在
雷達液位計的樹脂裝置上,原料C5經(jīng)過聚合反應,中和水洗,閃蒸后,利用氣提塔去除反應液中的低聚物,由于該液體溫度較高(300℃),粘度也很高,同時,由于采用飽和蒸汽通過安裝在塔釜的盤管加熱液體,導致在液面產(chǎn)生爆沸現(xiàn)象,存在許多泡沫,在液面和填料之間存在水汽。很顯然,一些接觸式的測量儀表難以達到要求,我們也曾嘗試采用雙法蘭差壓變送器,測量誤差較大,在裝置停車以后,變送器膜片表面粘附上大量的聚合物,使變送器極易損壞,所以沒有成功。后來,我們嘗試采用
雷達液位計測量,取得了很好的效果,由于考慮到在塔體上沒有垂直安裝位置,故采用了如圖2的側面安裝方式,加了一段特別制作的90°微波導波管,使圓錐型天線徑向與液面平行,由于測量的數(shù)據(jù)準確反映了真實液面,確保了該塔的安全穩(wěn)定操作。在測量中,我們利用
雷達液位計的 PC-CAT功能,利用筆記本電腦通過串行通訊接口,采用調試軟件窗口觀察微波信號的強弱,把泡沫的干擾予以確認后,通過加大閾值將泡沫信號濾波后成功去除。
為了確保雷達圓錐型天線表面不被粘度很高的液體粘附在上面和溫度偏高影響儀表的穩(wěn)定,在導波管與表體結合部安裝了冷卻和氮氣吹掃口。
雷達液位計測量的外部影響因素：
1、熱干擾
電廠運行中為熱力設備會造成很多的發(fā)熱量，這種發(fā)熱量從而造成周邊儀器及其工作溫度的轉變，這就是說人們常說的熱干擾，這種干擾都是對雷達液位計的元器件造成危害，深化造成精確測量不精準等難題。
2、光干擾
光的干擾關鍵取決于半導體材料構件，用于操縱儀器的構件之中很多全是由半導體器件做成，而半導體材料元器件在遭受光的危害就會更改其導電率能，與此同時，雷達液位計的一切正常應用也就遭受了危害。
